Wikipedia

Plik:Fib tem sample.jpg

Rozmiar pierwotny (1024 × 800 pikseli, rozmiar pliku: 205 KB, typ MIME: image/jpeg)

Logo Wikimedia Commons

Plik Fib tem sample.jpg znajduje się w Wikimedia Commons – repozytorium wolnych zasobów. Dane z jego strony opisu znajdują się poniżej.

Opis

Opis
English: SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling.
Deutsch: SEM-Bild eines Halbleiters der fuer Aufnahmen im TEM mit einer FIB praepariert wurde.
Data
Źródło English wikipedia
Autor english User:Cm the p


Licencja

w:pl:Licencje Creative Commons
uznanie autorstwa na tych samych warunkach 		Ten plik udostępniony jest na licencji Creative Commons Uznanie autorstwa – Na tych samych warunkach 3.0. Przedmiot wykluczenia odpowiedzialności.
Wolno:
  • dzielić się – kopiować, rozpowszechniać, odtwarzać i wykonywać utwór
  • modyfikować – tworzyć utwory zależne
Na następujących warunkach:
  • uznanie autorstwa – musisz określić autorstwo utworu, podać link do licencji, a także wskazać czy utwór został zmieniony. Możesz to zrobić w każdy rozsądny sposób, o ile nie będzie to sugerować, że licencjodawca popiera Ciebie lub Twoje użycie utworu.
  • na tych samych warunkach – Jeśli zmienia się lub przekształca niniejszy utwór, lub tworzy inny na jego podstawie, można rozpowszechniać powstały w ten sposób nowy utwór tylko na podstawie tej samej lub podobnej licencji.
Ten szablon został dodany jako element zmiany licencjonowania.
GNU head Udziela się zgody na kopiowanie, rozpowszechnianie oraz modyfikowanie tego dokumentu zgodnie z warunkami GNU Licencji Wolnej Dokumentacji, w wersji 1.2 lub nowszej opublikowanej przez Free Software Foundation; bez niezmiennych sekcji, bez treści umieszczonych na frontowej lub tylnej stronie okładki. Kopia licencji załączona jest w sekcji zatytułowanej GNU Licencja Wolnej Dokumentacji. Przedmiot wykluczenia odpowiedzialności.

Podpisy

Dodaj jednolinijkowe objaśnienie tego, co ten plik pokazuje

Obiekty przedstawione na tym zdjęciu

przedstawia

typ MIME

image/jpeg

Historia pliku

Kliknij na datę/czas, aby zobaczyć, jak plik wyglądał w tym czasie.

Data i czasMiniaturaWymiaryUżytkownikOpis
aktualny15:36, 3 lut 2007Miniatura wersji z 15:36, 3 lut 20071024 × 800 (205 KB)EdC{{Information |Description=SEM micrograph of a wide-bandgap semiconductor prepared for TEM by focused-ion-beam milling. |Source=English wikipedia |Date=9 March 2006 |Author=english User:Cm the p |Permission= |other_versions= }} [[category:Focused Ion Bea

Globalne wykorzystanie pliku

Ten plik jest wykorzystywany także w innych projektach wiki:

Metadane

Niniejszy plik zawiera dodatkowe informacje, prawdopodobnie dodane przez aparat cyfrowy lub skaner użyte do wygenerowania tego pliku.

Jeśli plik był modyfikowany, dane mogą być częściowo niezgodne z parametrami zmodyfikowanego pliku.

Źródło: „https://pl.wiki.x.io/wiki/Plik:Fib_tem_sample.jpg”